Паспорт средства измерений Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности, заводской номер 343501

ПАСПОРТ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

Номер в гос. реестре

60143-15

Наименование типа СИ (обозначение)

Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855)

Назначение средства измерений

Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan 755, Nanoscan 855, предназначены для измерений геометрических параметров шероховатости и контура поверхности исследуемых изделий, таких как: цилиндрические поверхности, отверстия, плоские поверхности, глубокие отверстия малого диаметра, различные виды резьб, а также изделия с асферической геометрией.

Модификация

Nanoscan 855

Описание типа

2015-60143-15.pdf

Тип производства

Серийное

Заводской номер

343501

Год производства (возраст, лет)

Год производства не указан

Производитель

Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH"
Страна - ГЕРМАНИЯ

Все поверки данного средства измерений

Организация поверитель Модификация Условный шифр знака поверки Тип поверки Дата поверки Дейтвительна до Наименование документа, на основании которого выполнена поверка Номер свидетельства (извещения) Владелец СИ Знак поверки в паспорте Знак поверки на СИ
Организация поверитель Модификация Условный шифр знака поверки Тип поверки Дата поверки Дейтвительна до Наименование документа, на основании которого выполнена поверка Номер свидетельства (извещения) Владелец СИ Знак поверки в паспорте Знак поверки на СИ
01.00225-2011 от
ФГУП "ВНИИМС"
Архивный
Nanoscan 855МБез статуса02.09.202001.09.2021МП 60143-15203-13825 Нет Нет
01.00225-2011 от
ФГУП "ВНИИМС"
Архивный
Nanoscan 855МПервичная02.09.202001.09.2021МП 60143-15C-М/02-09-2020/106286491юридическое лицо Нет Нет

Технические и метрологические характеристики СИ -

Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855)

Таблица 2

Модель

Nanosean 755

Nanosean 855

Измеряемые параметры шероховатости:

Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, Rsk, Imo, Io, Rdq, da,

ln, La, Lq, Rz-ISO, R3z,

Rpm, Rp3z, R3zm,

Rp, D, Rpe, RSm, Rpm/R3z, lr, Rku, tpif,

Rde, tpia, tpip, tpie, Rt/Ra, Rz1, Rz2, Rz3,

Rz4, Rz5, Rmr, Rmr%, Api, Rpk

Измеряемые параметры профиля:

Pt, Pp, Pz, Pa, Pq, Psk, PSm, Pdq, lp, Pku, tpaf, tpaa, tpab, tpae, Pmr0, APa, APa%,

Pmr, Pmr%, Pde

Типы фильтров

RC, аналоговый фильтр, цифровой Гауссов фильтр (М1), двойной Гауссов фильтр (М2), грубый Гауссов фильтр

Отсечка шага Хе, мм

0,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8

Соотношение Xe/Xs

30, 100, 300

Предел допускаемой основной относительной погрешности прибора по параметру Ra, %

3

Пределы допускаемой погрешности при измерении длины по

± (1 +0,015 •Х), где Х -измеряемая длина в

оси X, мкм*

мм

Пределы допускаемой погрешности при измерении длины по

± 2-(0,25 +0,04-Z), где Z -измеряемая

оси Z, мкм*

высота в мм

Пределы допускаемой погрешности при измерении углов....'

±0,5

Программное обеспечение

TURBOWAVE

EVOVIS

Щуповые консоли

Диапазон измерений параметров шероховатости по оси Z, мм

от 0 до 24/ от 0 до 48

от 0 до 24

Разрешение, нм

0,6/1,2

0,6

Измерительное усилие, мН (регулируемое)

от 1 до 50

от 1 до 50

Наконечник щуповой консоли

Алмаз 5 мкм/90°,

Алмаз 5 мкм/90°,

2 мкм/60°, рубиновый

2 мкм/60°,

наконечник 0 1 мм,

рубиновый

твердосплавный

наконечник 0 1 мм,

наконечник 0 20 мкм

твердосплавный

наконечник 0 20

мкм

Горизонтальный привод (ось Х)

Диапазон измерений, мм

от 0 до 200

Скорость при измерении, мм/с

0,1-3

Максимальная скорость позиционирования, мм/с

9 мм/с

Допускаемое отклонение от прямолинейности перемещения

<0,4

по оси Х, мкм/200 мм

Вертикальная колонна (ось Z)

Диапазон перемещений, мм

от 0 до 550

Скорость позиционирования, мм/с

0,1-50

Повторяемость позиционирования щупа по оси Z, мкм

<10

Измерительный стол:

Диапазон перемещений, мм

±12,5 мм

Диапазон вращения относительно вертикальной оси,. °

Габариты измерительного стола, мм, не более

±5

Длина

160

Ширина

160

Высота

96

Масса измеряемой детали, кг, не более

30

Электропитание:

Напряжение

115/230 В

Допускаемое колебание напряжения

-5 % - 10 %

Частота

50-60 Гц

Мощность

370/350 ВА

Сжатый воздух: Давление, бар

5 - 6

Расход, л/ч

1

Условия эксплуатации:

Диапазон рабочих температур, °С

от 18 до 25

Температурный градиент, °С/ч

± 1

Относительная влажность воздуха, %

от 40 до 85

Размеры стола для Nanoscan, мм Длина

1190

Ширина

800

Высота

780

Размеры гранитной плиты, мм Длина

850

Ширина

600

Высота

140

* - с щуповой консолью длиной 90 мм и сферическим наконечником.


Заявитель


ЗАО «Мастер-ФИТ»
192171, г. Санкт-Петербург, ул. Седова, 65А
Тел. (812) 336-40-50, факс (812) 560-00-22
Адрес эл. почты: meritel@metrologi.ru

Испытательный центр


Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научноисследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС»)
Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
Телефон: (495) 437 55-77, факс: (495) 437-56-66,
E-mail: office@vniims.ru

Правообладатель


Изготовитель

Hommel-Etamic GmbH, Германия
Address: Alte Tuttlinger StraBe 20,
78056 VS-Schwenningen, Phone +49 7720 602-0 Fax: +49 7720 602-123
E-mail: info.de@hommel-etamic.com

Внешний вид средства измерений: Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности, заводской номер №343501
Внешний вид средства измерений: Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности, заводской номер №343501

Все средства измерений Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH"

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
28150-07
01.06.2012
Установки для измерений параметров валов , Opticline Contour
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
1 год
28150-13
06.06.2018
Установки для измерений параметров валов , Opticline Contour
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
1 год
53053-13
25.03.2018
Приборы для измерений параметров шероховатости поверхности, Hommel-Etamic T1000
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
53214-13
12.04.2018
Приборы для измерений параметров шероховатости, волнистости и профиля поверхности, Hommel-Etamic T8000, HOMMEL-ETAMIC C8000
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
53512-13
15.05.2018
Меры для поверки установок, Opticline Contour
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
53739-13
07.05.2024
Приборы для измерений параметров шероховатости поверхности, Hommel-Etamic W5
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
54219-13
16.07.2018
Приборы для измерений параметров шероховатости, Hommel-Etamic W55
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
2 года
56367-14
24.12.2024
Приборы для измерений отклонений формы и расположения поверхностей, Hommel-Etamic F50, F135, F155, F435, F455, Roundscan 535, Roundscan 555 и Roundscan 590
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
2 года
60143-15
13.03.2020
Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности, Nanoscan 755, Nanoscan 855
Фирма "HOMMEL-ETAMIC GmbH" (ГЕРМАНИЯ )
ОТ
МП
2 года

Статистика

Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 2
Кол-во средств измерений - 2
Кол-во владельцев - 3
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 455 дн.

Кто поверяет Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855)

Наименование организации Cтатус
ФГУП "ВНИИМС"
(01.00225-2011)
РСТ
ФГУП "ВНИИМС"
(RA.RU.311493)
РСТ
ФГБУ "ВНИИМС"
(RA.RU.311493)
РСТ

Стоимость поверки Приборы для измерений параметров шероховатости и контура поверхности (Nanoscan 755, Nanoscan 855)

Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость
ФБУ Тест-С.-Петербург
Санкт-Петербург
19470 20655
ФБУ Тест-С.-Петербург
Санкт-Петербург
21840 20655

Какие модификации данного типа СИ еще существуют

Nanoscan 755; Nanoscan 855;

Настройки внешнего вида
Цветовая схема

Ширина

Левая панель